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絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀更新時(shí)間：2025-07-07型號(hào)：BEST-353廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1576絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢(shì)下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢(shì)，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對(duì)絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等.
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導(dǎo)電四探針電阻檢測(cè)儀更新時(shí)間：2025-07-07型號(hào)：BEST-300C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：2702導(dǎo)電四探針電阻檢測(cè)儀輔助接地電阻及地電壓引起的測(cè)量誤差： 允許輔助接地電阻RC（C1與C2之間）。 0～2Ω，2～20Ω ≤1KΩ。 20～200Ω ≤2KΩ。 RP（P1與P2之間）40KΩ 誤差≤±5%。 允許地電壓（工頻有效值）≤5V 誤差≤±5%。
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增塑劑電阻測(cè)定儀更新時(shí)間：2025-07-07型號(hào)：BEST-380廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1370增塑劑電阻測(cè)定儀同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值。
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薄膜防靜電體積電阻率測(cè)試儀更新時(shí)間：2025-07-07型號(hào)：BEST-19廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1389薄膜防靜電體積電阻率測(cè)試儀測(cè)試屏蔽箱（內(nèi)含國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)四電極） (注：不同的標(biāo)準(zhǔn)有不同的電極,如果要美國(guó)ASTM電極，請(qǐng)訂貨時(shí)請(qǐng)說明)。 絕緣板： ≥100TΩ.m (1014Ω.m)
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四探針電阻測(cè)定儀更新時(shí)間：2025-07-07型號(hào)：BEST-300C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1472四探針電阻測(cè)定儀硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》. GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.
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